X射線工業(yè)CT斷層掃描測量儀將X射線斷層掃描成像技術(shù)整合到三坐標(biāo)測量系統(tǒng)，實現(xiàn)復(fù)雜部件高精度內(nèi)外尺寸全面測量，可選配第二個Z軸，配置其他傳感器（光學(xué)、探針、光纖、激光等）。Werth公司的復(fù)合式傳感器技術(shù)，進一步保證CT測量數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。

　　斷層掃描測量儀選用廣泛應(yīng)用的WinWerth軟件，界面友好，操作簡單。可使用擬合Bestfit及公差擬合Tolerancefit軟件進行輪廓匹配分析及三維CAD工件公差比對。廣泛應(yīng)用于復(fù)雜尺寸測量、*評估、逆向工程、質(zhì)量控制等。

　　斷層掃描測量儀的數(shù)據(jù)特征：

　　高精密機械軸承技術(shù)及線性導(dǎo)軌系統(tǒng)，確保實現(xiàn)高精度的測量。

　　無論從設(shè)計還是結(jié)構(gòu)，測量機*并超出X射線使用安全標(biāo)準(zhǔn)。

　　基于Werth公司優(yōu)異的圖形處理及3D重構(gòu)技術(shù)，測量速度更快。

　　Werth公司技術(shù)的X射線傳感器獨立校準(zhǔn)系統(tǒng)。

　　柵格斷層掃描技術(shù)：

　　精密測量微小部件；

　　掃描更大尺寸工件，提高分辨率；

　　擴展測量范圍。

　　測量軟件可快速3D重構(gòu)，也可進行2D測量。

　　測量工件內(nèi)部尺寸的同時，也可實現(xiàn)材質(zhì)缺陷分析。